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MX700KGD-600 芯片动静态筛选测试系统

产品介绍

MX700KGD系列芯片动静态筛选测试系统是一款对裸芯片进行自动化筛选测试的设备，主要应用于SiC MOS或IGBT芯片的测试。系统主要由测试系统、自动化装备以及测试针卡组成，能够进行芯片标称电流电压的测试，以筛选评估芯片完整的数据表现。






测试站的升降机构带动芯片载台升降，直至探针卡的的探针接触芯片为止，探针卡的压力室密封，自动校准芯片的高度。

产品规格表

动态测试技术参数


静态测试技术参数

产品特点
测试类型全覆盖，可根据客户需求进行测试功能的配置，实现芯片的外观检测、高温或常温下动静态测试等；
高压大电流测试，实现裸芯片的标称规格测试，筛选完整数据表现；
低杂散，系统寄生电感小于20nH；
高产能，测试UPH可达600Pcs以上;
具备气体保护功能，防止测试过程中打火和氧化。
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